Szybkie skanowanie 3D

Szybkość wykonywania pomiarów z wykorzystaniem technologii 3D to jedna z największych zalet skoku technologicznego, który możemy obserwować na przestrzeni kilku ostatnich lat. Szybkie skanowanie 3D pozwala na jeszcze szybsze niż do tej pory realizowanie projektów, w których potrzebne nam są dokładne i wiarygodne dane. Jeszcze do niedawna pomiary odbywały się jedynie przy wykorzystaniu metod tradycyjnych, co znacznie wydłużało czas pracy. Uzyskane pomiary były też obarczone dość sporym marginesem błędu, a także miały w swój zakres wpisane ryzyko niepowodzenia. Na czas realizacji miały wpływ takie czynniki jak warunki atmosferyczne, niedyspozycja osób fizycznych, które dokonywały pomiarów, a także inne, nieprzewidziane czynniki zewnętrzne. Wraz z automatyzacją i wejściem pomiarów na zupełnie nowy, wyższy poziom niemalże wszystkie newralgiczne kwestie zostały wyeliminowane. Szybkie skanowanie 3D stało się powszechnie dostępne i szeroko wykorzystywane w niemalże wszystkich gałęziach przemysłu. Dzięki temu takie dziedziny jak architektura, budownictwo, kontrola jakości czy geodezja zyskały szansę na realizację projektów w szybszym tempie, przy mniejszym nakładzie sił i środków finansowych. Szybkie skanowanie 3D przyczyniło się nie tylko do szansy na uzyskiwanie lepszych efektów z pomiarów, ale także do możliwości tworzenia projektów i realizacji na poziomie światowym. Skanowanie 3D ma swój nierozerwalny związek z technologią druku 3D, który to bardzo czerpie ze zdobyczy tej technologii. Możliwość wydruku obiektów, których model 3D powstał na podstawie wykonywania skanów to szansa na szybszą i mniej problemową produkcję, niż miało to miejsce kiedykolwiek wcześniej. Szybkie skanowanie 3D zastępuje też konieczność posiadania know-how odnośnie funkcjonowania poszczególnych produktów. Pozwala to na zmniejszenie środków finansowych potrzebnych do realizacji projektów, a także znacznego skrócenia czasu ich przebiegu. Pominięta zostaje bowiem konieczność dotarcia do pierwotnych producentów i uzyskania od nich patentu.